研究業績(論文)
論文名
著者名
雑誌名
出版者
巻
号
開始ページ
終了ページ
発行年月日
査読の有無
招待の有無
記述言語
掲載区分
掲載種別
執筆形態
ISSN
DOI
NAID(CiNiiのID)
PMID
Permalink
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概要
備考
基本情報
氏名
谷澤 健
氏名(カナ)
タニザワ ケン
氏名(英語)
TANIZAWA Ken
論文名
Evaluation of the phase error in Si-wire arrayed-waveguide gratings fabricated by ArF-immersion photolithography
著者名
Kyosuke Muramastu, Hideaki Asakura, Keijiro, Suzuki, Ken Tanizawa, Munehiro Toyama, Minoru Ohtsuka, Nobuyuki Yokoyama, Kazuyuki Matsumaro, Miyoshi Seki, Keiji Koshino, Kazuhiro Ikeda, Shu Namiki, Hitoshi Kawashima, and Hiroyuki Tsuda
雑誌名
IEICE Electronics Express
出版者
IEICE
巻
12
号
7
開始ページ
20150019
 
終了ページ
 
発行年月日
2015/04
査読の有無
有
招待の有無
無
記述言語
英語
掲載区分
海外
掲載種別
研究論文(学術雑誌)
執筆形態
共著(筆頭者以外)
ISSN
 
DOI
 
NAID(CiNiiのID)
 
PMID
 
Permalink
URL
概要
 
備考