特許等

基本情報

氏名 中平 健治
氏名(カナ) ナカヒラ ケンジ
氏名(英語) NAKAHIRA Kenji
所属 量子情報科学研究所 量子情報数理研究センター
職名 教授
researchmap研究者コード 7000019192
researchmap機関

種類

特許権

名称

走査荷電粒子顕微鏡を用いた画像生成方法及び装置、並びに試料の観察方法及び観察装置

発明者

上瀧剛, 宮本敦, 中平健治, 広井高志

出願番号

-

出願日

公開番号

公開日

公表番号

公表日

特許番号/登録番号

特許第05393550号

登録日

発行日

2013/10

URL

形式

出願人機関コード

出願人

権利者

出願国

取得国

JGlobalID

概要

備考