特許等
種類
名称
発明者
出願番号
出願日
公開番号
公開日
公表番号
公表日
特許番号/登録番号
登録日
発行日
URL
形式
出願人機関コード
出願人
権利者
出願国
取得国
JGlobalID
概要
備考
基本情報
氏名
中平 健治
氏名（カナ）
ナカヒラ ケンジ
氏名（英語）
NAKAHIRA Kenji
所属
量子情報科学研究所 量子情報数理研究ｾﾝﾀｰ
職名
教授
researchmap研究者コード
7000019192
researchmap機関
種類
特許権
名称
検査方法および検査装置
発明者
出願番号
-
出願日
公開番号
公開日
公表番号
公表日
特許番号/登録番号
特許第05745438号
登録日
発行日
2015/05
URL
形式
出願人機関コード
出願人
細谷直樹, 中平健治, 宮本敦, 渡邊貴史
権利者
出願国
取得国
JGlobalID
概要
備考
