特許等
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基本情報
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| 氏名 | 中平 健治 |
| 氏名（カナ） | ナカヒラ ケンジ |
| 氏名（英語） | NAKAHIRA Kenji |
| 所属 | 量子情報科学研究所 量子情報数理研究ｾﾝﾀｰ |
| 職名 | 教授 |
| researchmap研究者コード | 7000019192 |
| researchmap機関 |
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特許権
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欠陥観察方法及び欠陥観察装置
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嶺川陽平, 中垣亮, 中平健治, 平井大博, 北橋勝弘
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特許第05452392号
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2014/01
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